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半導體器件靜電放電模擬

半導體器件靜電放電模擬

  • 所屬分類:日本Noiseken位移傳感器
  • 瀏覽次數:
  • 發布日期:2021-05-21
  • 產品概述
  • 性能特點
  • 技術參數

概要

品牌:日本NoiseKen
產品名稱:日本NoiseKen半導體器件靜電放電模擬試驗器ESS-6002
產品型號:ESS-6002
產品簡介:考查實際上給電子設備安裝半導體元件時,半導體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗器。

日本NoiseKen半導體器件靜電放電模擬試驗器ESS-6002規格:

特征:

- 考查實際上給電子設備安裝半導體元件時,半導體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗器。
- 半導體元件因受靜電可能發生內部配線,絕緣膜的熔斷,破壞等而導致產品特性裂化,誤動作的現象。
- 對于此靜電破壞試驗,只需利用1 臺弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡單實行人體帶電型,機器帶電型的試驗。還有,可用選件中的精密型支架可對超細密間- - 距元件做半自動的試驗。
- 最適合用于進行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗。
- 精密型支架

  • - 可做相對輸出電壓±8KV 試驗(ESS-6008)

  • - 可做出留有余量的試驗

  • - 可對各種間距的受測元件進行靜電施加試驗

  • - 可搭配精密測臺,以半自動(Y 軸)的腳位移動而正確的對待

  • - 測物施加靜電

  • - 可做最低試驗電壓±10V 的試驗(ESS-6002)

  • - 對于低電壓驅動元件的評價可從10V 開始以1V 的步長予施加

  • - 可對應規格 

對應標準

人體模型試驗 (HBM)

機械模型試驗 (MM)

AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003

AEC-Q100-003-REV-E  Jul.2003

ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001

ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999

IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002

IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002

IEC 60749-26 Ed.1.0 2003

IEC 60749-27 Ed.1.0 2003

JEDEC JESD22-A114E Jan 2007

JEDEC JESD22-A115A Oct.1997

JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304

JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001

MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989


規格半導體器件靜電放電模擬試驗器 (ESS-6002/ESS-6008)


項目

功能/性能

ESS-6002

ESS-6008

輸出電壓

10~2000V±10%(ESS-6002) 1V步進

100~8000V±10%(ESS-6008) 10V步進

輸出極性

正或負

重復周期

0.3~99s±10%
到10s為止0.1s步進 10s以后1s步進

放電次數 

1~99次/連續

Automatic output voltage ramping

Available

尺寸

(W)340×(H)×199×(D)300mm(不含突起部分)

尺寸

約6kg

簡易型探針臺 <18-00075A>

項目

功能/性能

尺寸/重量(探針臺主機)

(W)200×(H)330×(D)290mm/約1.5kg

尺寸/重量(簡易放電板) 

(W)100×(H)27×(D)180mm(不含突起部)/約200g

鉗口尺寸

110mm

其他

POM造V型部件1個 標準附件

半自動精密型探針臺 <18-00076A>

由于半自動精密型探針臺的最小分辨率為0.01mm,所以可以簡單地對毫米間距和英寸間距等極小間距的半導體進行試驗

項目

功能/性能

尺寸/重量

(W)250×(H)400×(D)300mm/約7kg

可對應IC

較高尺寸:40mm角 最小導線間距:0.4mm

X軸

手動 移動量:20mm ×燕尾槽、進給螺桿

Y軸

電動(相對速度:13mm/s)移動量:40mm(Y分辨率:0.01mm)*步進馬達&滾珠螺桿

θ軸

手動 移動量:360°

Z axis

手動 移動量:20mm *內置彈簧下壓式

回原點

手動


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